测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:06-29 2023 来自:祥宇精密
测长仪是一种用于测量长度、距离或厚度的工具,在许多领域中都有广泛的应用。本文将介绍测长仪的基本概念,阐述其原理和功能,并探讨不同类型的测长仪及其应用领域。作为精密测量工具的代表之一,测长仪在工业、制造、建筑和科学研究等领域中扮演着重要角色。
一、测长仪的基本原理
1. 直尺原理:直尺是最简单、最常见的测长仪之一,通过刻度线和游标的组合来测量长度。
2. 激光测距原理:激光测长仪利用激光束发射和接收的时间差来计算测量物体的距离。
3. 光干涉原理:光干涉式测长仪利用光的干涉现象测量长度,通过将光束分成两部分并在目标上发生干涉,计算得出长度值。
4. 磁性原理:磁性测长仪使用磁场感应原理来测量物体的长度或位移。
二、测长仪的功能和应用领域
1. 长度测量:测长仪可精确测量物体的长度,包括直线长度、曲线长度和周长等。
2. 距离测量:激光测距仪广泛应用于建筑工程、地理测绘和制造业中,可以快速准确地测量远距离对象的距离。
3. 厚度测量:测长仪可用于测量材料的厚度,例如金属板、纸张和塑料薄膜等。
4. 位移测量:磁性测长仪常用于测量机械零件的位移和位置变化。
5. 校准和质量控制:测长仪在校准其他测量工具和保证产品质量方面起着重要作用。
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